全部作者	陳 美汝
論文名稱	Characterization Study of AlN Metal-Semiconductor-Metal DUV Detectors in Vacuum
研討會名稱	2012 International Electron Devices and Materials Symposium (IEDMS 2012)
舉行地點	中華民國高雄市
會議開始時間	2012-11-29
會議結束時間	2012-11-30
作者順序	第三作者