全部作者	陈 美汝
论文名称	Characterization Study of AlN Metal-Semiconductor-Metal DUV Detectors in Vacuum
研讨会名称	2012 International Electron Devices and Materials Symposium (IEDMS 2012)
举行地点	中华民国高雄市
会议开始时间	2012-11-29
会议结束时间	2012-11-30
作者顺序	第三作者